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D8 ADVANCE A25 X射线衍射仪
发表日期:2023-06-30 阅览

D8 ADVANCE A25 X射线衍射仪利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质,都有其特定的晶体结构,包括点阵类型、晶面间距等参数,用具有足够能量的x射线照射试样,试样中的物质受激发,会产生二次荧光X射线(标识X射线),晶体的晶面反射遵循布拉格定律。通过测定衍射角位置(峰位)可以进行化合物的定性分析,测定谱线的积分强度(峰强度)可以进行定量分析,而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。

主要功能:

(1)物相分析 是X射线衍射在金属中用得最多的方面,又分为定性分析和定量分析。

(2)精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的绘制。

(3)取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构(如择优取向),分析材料变形织构。

(4)晶粒(嵌镶块)大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。(5)宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小。利用测定点阵平面在不同方向上的间距的改变,可计算出残留应力的大小和方向。

测试电压为40 KV,电流40 mA;步宽一般用0.02度;扫描速度默认为0.1 s/step。测量角度(2θ)范围可根据需要改变,一般为20°~90°。除特殊扫描最大允许设置范围为10°~135°。