771771威尼斯.cmApp(中国)官方VIP网站-Best App Store

Gemini SEM 300场发射扫描电子显微镜
发表日期:2023-06-30 阅览

利用二次电子或背散射电子信号对金属材料、高分子材料及半导体材料等微观结构进行表面形貌及断口分析,配合能谱仪对元素进行定性及半定量分析。同时配有EBSD,与能谱仪形成一体化系统,用于材料的成分和结构组合分析。同时配有二次电子和背散射电子探测器;配有电制冷能谱仪系统(牛津X-Max 50); 配有EBSD系统(牛津Nordlys Nano);二次电子最高分辨率:0.7nm@15kV,1.2nm@1kV; 加速电压 :0.02-30kV ;电子束流:3pA-20nA。

注意事项:

1.测试样品必须使用真空干燥箱进行烘干处理;

2.导电性不好的样品需要提前进行喷金处理;

3.若EM server 出现异常,不能强行启动软件;

4.若使用过程中出现异常提示,必须终止操作,在操作过程中一定要保证电镜正常运行;

5.使用背散射探头和EBSD探头时开启摄像头模式,避免样品撞到探头。